Einträge von Vancea, Johann auf dem Publikationsserver

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Anzahl der Einträge: 8.

2012

Gareev, R. R., Schmid, M., Vancea, Johann, Back, C. H.

, Schreiber, Rainer, Bürgler, D.

, Schneider, C. M.

, Stromberg, F. und Wende, Heiko

(2012) Antiferromagnetic coupling across silicon regulated by tunneling currents. Applied Physics Letters.

2009

Heindl, Emanuel, Kefes, Christoph, Soda, Marcello, Vancea, Johann und Back, Christian

(2009) Hot electron spin attenuation lengths of bcc Fe34Co66—Room temperature Magnetocurrent of 1200%. Journal of Magnetism and Magnetic Materials 321 (22), S. 3693. Volltext nicht vorhanden.

2008

Stetter, Andreas, Vancea, Johann und Back, Christian (2008) Determination of the intershell conductance in a multiwall carbon nanotube. Applied Physics Letters 93, S. 172103. Volltext nicht vorhanden.

2007

Heindl, Emanuel, Vancea, Johann und Back, Christian

(2007) Ballistic electron magnetic microscopy on epitaxial spin valves. Physical Review B (PRB) 75, 073307. Zugang zum Volltext eingeschränkt.

Heindl, Emanuel, Vancea, Johann, Woltersdorf, Georg

und Back, Christian

(2007) Hot-electron transport and magnetic anisotropy in epitaxial spin valves. Physical Review B (PRB) 76, S. 104435.

2004

Liu, Dongping, Benstetter, Günther, Lodermeier, Edgar, Zhang, Jialiang, Liu, Yanhong und Vancea, Johann (2004) Filtered pulsed carbon cathodic arc: Plasma and amorphous carbon properties. Journal of Applied Physics 95 (12), S. 7624-7631. Volltext nicht vorhanden.

2003

Liu, Dongping, Benstetter, Günther, Lodermeier, Edgar und Vancea, Johann (2003) Influence of the incident angle of energetic carbon ions on the properties of tetrahedral amorphous carbon (ta-C) films. Journal of Vacuum Science & Technology A: Vacuum, Surfaces, and Films 21 (5), S. 1665-1670. Volltext nicht vorhanden.

2001

Olbrich, Alexander, Ebersberger, Bernd, Boit, Christian, Vancea, Johann, Hoffmann, Horst, Altmann, Hans, Gieres, Guenther und Wecker, Joachim (2001) Oxide thickness mapping of ultrathin Al2O3 at nanometer scale with conducting atomic force microscopy. Applied Physics Letters 78 (19), S. 2934-2936. Volltext nicht vorhanden.

Diese Liste wurde erzeugt am Sat Dec 21 18:54:54 2024 CET.

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