Anzahl der Einträge: 9.
Artikel
Pielmeier, Florian,
Landolt, Gabriel,
Slomski, Bartosz,
Muff, Stefan,
Berwanger, Julian,
Eich, Andreas,
Khajetoorians, Alexander A.,
Wiebe, Jens,
Aliev, Ziya S.,
Babanly, Mahammad B.,
Wiesendanger, Roland,
Osterwalder, Jürg,
Chulkov, Evgueni V.,
Giessibl, Franz J. und
Dil, J. Hugo
(2015)
Response of the topological surface state to surface disorder in TIBiSe2.
New Journal of Physics 17, 023067.
Kleiber, M.,
Kümmerlen, F.,
Löhndorf, M.,
Wadas, A.,
Weiss, Dieter und
Wiesendanger, Roland
(1998)
Magnetization switching of submicrometer Co dots induced by a magnetic force microscope tip.
Physical Review B 58, S. 5563.
Wiesendanger, Roland,
Bode, M.,
Kleiber, M.,
Löhndorf, M.,
Pascal, R.,
Wadas, A. und
Weiss, Dieter
(1997)
Magnetic nanostructures studied by scanning probe microscopy and spectroscopy.
Journal of Vacuum Science &Technology B 15, S. 1330.
Volltext nicht vorhanden.
Buchkapitel
Gross, Leo,
Schuler, Bruno,
Mohn, Fabian,
Moll, Nikolaj,
Repp, Jascha ![ORCID 0000-0003-2883-7083](/images/orcid_16x16.gif)
und
Meyer, Gerhard
(2015)
12. Atomic Resolution on Molecules with Functionalized Tips.
In:
Morita, Seizo und
Giessibl, Franz J. und
Meyer, Ernst und
Wiesendanger, Roland, (eds.)
Noncontact Atomic Force Microscopy: Volume 3.
NanoScience and Technology (12).
Springer International Publishing, S. 223-246.
ISBN 978-3-319-15587-6.
Volltext nicht vorhanden.
Giessibl, Franz J. ![ORCID 0000-0002-5585-1326](/images/orcid_16x16.gif)
(2009)
6. Principles and Applications of the qPlus Sensor.
In:
Morita, Seizo und
Giessibl, Franz J. und
Wiesendanger, Roland, (eds.)
Noncontact Atomic Force Microscopy : Volume 2.
Springer, Berlin, S. 121-142.
ISBN 978-3-642-01495-6.
Volltext nicht vorhanden.
Giessibl, Franz J.
(2002)
2. Principle of NC-AFM.
In:
Morita, Seizo und
Wiesendanger, Roland und
Meyer, Ernst, (eds.)
Noncontact atomic force microscopy. Band 1.
Nanoscience and technology (2).
Springer, Berlin, S. 11-46.
ISBN 3-540-43117-9.
Volltext nicht vorhanden.
Buch
Morita, Seizo und
Giessibl, Franz J. und
Wiesendanger, Roland und
Meyer, Ernst, eds.
(2015)
Noncontact Atomic Force Microscopy: Volume 3.
NanoScience and Technology, (12).
Springer.
ISBN Hardcover 978-3-319-15587-6; eBook ISBN 978-3-319-15588-3.
Volltext nicht vorhanden.
Morita, Seizo und
Giessibl, Franz J. und
Wiesendanger, Roland, eds.
(2009)
Noncontact Atomic Force Microscopy: Volume 2.
NanoScience and Technology.
Springer, Heidelberg, Berlin.
ISBN Hardcover 978-3-642-01494-9; eBook ISBN 978-3-642-01495-6; Softcover ISBN: 978-3-642-26070-4.
Volltext nicht vorhanden.
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