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Publikationen von Wutscher, Thorsten

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Anzahl der Einträge: 7.

2013

Weymouth, Alfred J., Meuer, Daniel, Mutombo, Pingo, Wutscher, Thorsten, Ondracek, Martin, Jelinek, Pavel und Giessibl, Franz J. (2013) Atomic Structure Affects the Directional Dependence of Friction. Physical Review Letters 111 (12), S. 126103. Volltext nicht vorhanden.

Wutscher, Thorsten, Niebauer, Johannes und Giessibl, Franz J. (2013) Scanning probe microscope simulator for the assessment of noise in scanning probe microscopy controllers. Review of Scientific Instruments 84, 073704-1.

Wutscher, Thorsten (2013) Untersuchung der Kopplung von atomaren Strömen und atomaren Kräften durch die Rastersondenmikroskopie. Dissertation, Universität Regensburg.

2012

Wutscher, Thorsten, Weymouth, Alfred J. und Giessibl, Franz J. (2012) Localization of the phantom force induced by the tunneling current. Physical Review B (PRB) 85 (19), 195426-1-195426-6.

2011

Weymouth, Alfred J., Wutscher, Thorsten, Welker, Joachim, Hofman, Thomas und Giessibl, Franz J. (2011) Phantom Force Induced by Tunneling Current: A Characterization on Si(111). Physical Review Letters (PRL) 106 (22), 226801-1-226801-4.

Wutscher, Thorsten und Giessibl, Franz J. (2011) Note: In situ cleavage of crystallographic oriented tips for scanning probe microscopy. Review of Scientific Instruments 82 (2), 026106.

2010

Tung, Raimond C., Wutscher, Thorsten, Martinez-Martin, David, Reifenberger, Ronald G., Giessibl, Franz J. und Raman, Arvind (2010) Higher-order eigenmodes of qPlus sensors for high resolution dynamic atomic force microscopy. Journal of Applied Physics 107 (10), 104508-1-104508-8.

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