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Anzahl der Einträge in dieser Kategorie: 5.
Applied Physics Letters
Weymouth, Alfred Jay 
und Giessibl, Franz J.
(2012)
The effect of sample resistivity on Kelvin probe force microscopy.
Applied Physics Letters 101, S. 213105-1.
Welker, Joachim, de Faria Elsner, Frederico und Giessibl, Franz J.
(2011)
Application of the equipartition theorem to the thermal excitation of quartz tuning forks.
Applied Physics Letters 99, 084102.
Review of Scientific Instruments
Wutscher, Thorsten, Niebauer, Johannes und Giessibl, Franz J.
(2013)
Scanning probe microscope simulator for the assessment of noise in scanning probe microscopy controllers.
Review of Scientific Instruments 84, 073704-1.
Wutscher, Elisabeth und Giessibl, Franz J.
(2011)
Atomic force microscopy at ambient and liquid conditions with stiff sensors and small amplitudes.
Review of Scientific Instruments 82, 093703.
Wutscher, Thorsten und Giessibl, Franz J.
(2011)
Note: In situ cleavage of crystallographic oriented tips for scanning probe microscopy.
Review of Scientific Instruments 82 (2), 026106.
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