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Einträge von Welker, Joachim auf dem Publikationsserver
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Anzahl der Einträge: 9.
2015
Emmrich, Matthias, Huber, Ferdinand, Pielmeier, Florian, Welker, Joachim, Hofmann, Thomas, Schneiderbauer, Maximilian, Meuer, Daniel, Polesya, Svitlana, Mankovsky, Sergiy, Koedderitzsch, Diemo, Ebert, Hubert und Giessibl, Franz J. 
(2015)
Subatomic resolution force microscopy reveals internal structure and adsorption sites of small iron clusters.
SCIENCE 348 (6232), S. 308-311.
2013
Welker, Joachim, Weymouth, Alfred J. und Giessibl, Franz J.
(2013)
The Influence of Chemical Bonding Configuration on Atomic Identification by Force Spectroscopy.
ACS NANO 7 (8), S. 7377-7382.
Volltext nicht vorhanden.
und Giessibl, Franz J.
(2013)
The Influence of Chemical Bonding Configuration on Atomic Identification by Force Spectroscopy.
ACS NANO 7 (8), S. 7377-7382.
Volltext nicht vorhanden.
Welker, Joachim
(2013)
Höchstauflösende Kraftmikroskopie mit subatomar definierten Bindungszuständen.
Dissertationsreihe der Fakultät für Physik der Universität Regensburg 30,
Dissertation, Universität Regensburg.
Welker, Joachim und Giessibl, Franz J.
(2013)
Abbildung der Symmetrien chemischer Bindungen.
, Regensburg.
2012
Welker, Joachim und Giessibl, Franz J.
(2012)
Revealing the Angular Symmetry of Chemical Bonds by Atomic Force Microscopy.
Science 336 (608), S. 444-449.
Welker, Joachim, Illek, Esther und Giessibl, Franz J.
(2012)
Analysis of force-deconvolution methods in frequency-modulation atomic force microscopy.
Beilstein Journal of Nanotechnology 3, S. 238-248.
2011
Weymouth, Alfred J. , Wutscher, Thorsten, Welker, Joachim, Hofman, Thomas und Giessibl, Franz J.
(2011)
Phantom Force Induced by Tunneling Current: A Characterization on Si(111).
Physical Review Letters (PRL) 106 (22), 226801-1-226801-4.
Welker, Joachim, de Faria Elsner, Frederico und Giessibl, Franz J.
(2011)
Application of the equipartition theorem to the thermal excitation of quartz tuning forks.
Applied Physics Letters 99, 084102.
2010
Hofmann, Thomas, Welker, Joachim und Giessibl, Franz J.
(2010)
Preparation of light-atom tips for scanning probe microscopy by explosive delamination.
Journal of Vacuum Science & Technology B 28 (3), C4E28-C4E30.
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