Anzahl der Einträge in dieser Kategorie: 10.
2002
2001
Hölzl, R.,
Huber, A.,
Fabry, L.,
Range, K.-J. und
Blietz, M.
(2001)
Integrity of ultrathin gate oxides with different oxide thickness, substrate wafers and metallic contaminations.
Applied Physics A Materials Science & Processing 72 (3), S. 351-356.
Volltext nicht vorhanden.
2000
Zabel, Manfred,
Breu, Josef ,
Rau, Franz,
Range, Klaus-Jürgen,
Krey, Volker,
Uffrecht, Anka und
Buschauer, Armin
(2000)
Absolute configuration of (-)-4-(3,4-dichlorophenyl)-4-(2-pyridyl)butanoic acid: essential information to determine crucial steric feature of arpromidine-type histamine H_2 receptor agonists.
Acta Crystallographica Section C 56, S. 250-251.
Volltext nicht vorhanden.
Hoelzl, R.,
Huber, D.,
Range, K. -J.,
Fabry, L.,
Hage, J. und
Wahlich, R.
(2000)
Gettering of Copper and Nickel in p/p+ Epitaxial Wafers.
Journal of The Electrochemical Society 147 (7), S. 2704.
Volltext nicht vorhanden.
1999
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