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Publikationen von Weymouth, Alfred J.

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Anzahl der Einträge: 12.

2016

Ooe, Hiroaki, Kirpal, Dominik, Wastl, Daniel S., Weymouth, Alfred J. , Toyoko, Arai und Giessibl, Franz J. (2016) Amplitude dependence of image quality in atomically-resolved bimodal atomic force microscopy. Applied Physics Letters 109, S. 141603.

2015

Huber, Ferdinand, Matencio, Sonia, Weymouth, Alfred J., Ocal, Carmen, Barrena, Esther und Giessibl, Franz J. (2015) Intramolecular Force Contrast and Dynamic Current-Distance Measurements at Room Temperature. Physical Review Letters 115 (6), 066101-1-066101-4.

Emmrich, Matthias, Schneiderbauer, Maximilian, Huber, Ferdinand, Weymouth, Alfred J., Okabayashi, Norio und Giessibl, Franz J. (2015) Force Field Analysis Suggests a Lowering of Diffusion Barriers in Atomic Manipulation Due to Presence of STM Tip. Physical Review Letters (PRL) 114, 146101-146101-5.

Wastl, Daniel S., Judmann, Michael, Weymouth, Alfred J. und Giessibl, Franz J. (2015) Atomic Resolution of Calcium and Oxygen Sublattices of Calcite in Ambient Conditions by Atomic Force Microscopy Using qPlus Sensors with Sapphire Tips. ACS Nano 9 (4), S. 3858-3865. Volltext nicht vorhanden.

2014

Schneiderbauer, Maximilian, Emmrich, Matthias, Weymouth, Alfred J. und Giessibl, Franz J. (2014) CO Tip Functionalization Inverts Atomic Force Microscopy
Contrast via Short-Range Electrostatic Forces.
Physical Review Letters (PRL) 112, 166102-1-166102-5.

Wastl, Daniel S., Weymouth, Alfred J. und Giessibl, Franz J. (2014) Atomically Resolved Graphitic Surfaces in Air by Atomic Force Microscopy. ACS NANO 8 (5), S. 5233-5239. Volltext nicht vorhanden.

Weymouth, Alfred J., Hofmann, Thomas und Giessibl, Franz J. (2014) Quantifying Molecular Stiffness and Interaction with Lateral Force Microscopy. Science 343 (6175), 1120-1-1120-5.

2013

Weymouth, Alfred J., Meuer, Daniel, Mutombo, Pingo, Wutscher, Thorsten, Ondracek, Martin, Jelinek, Pavel und Giessibl, Franz J. (2013) Atomic Structure Affects the Directional Dependence of Friction. Physical Review Letters 111 (12), S. 126103. Volltext nicht vorhanden.

Welker, Joachim, Weymouth, Alfred J. und Giessibl, Franz J. (2013) The Influence of Chemical Bonding Configuration on Atomic Identification by Force Spectroscopy. ACS NANO 7 (8), S. 7377-7382. Volltext nicht vorhanden.

Wastl, Daniel S., Weymouth, Alfred J. und Giessibl, Franz J. (2013) Optimizing atomic resolution of force microscopy in ambient conditions. Physical Review B (PRB) 87 (24), 245415-1-245415-10.

2012

Wutscher, Thorsten, Weymouth, Alfred J. und Giessibl, Franz J. (2012) Localization of the phantom force induced by the tunneling current. Physical Review B (PRB) 85 (19), 195426-1-195426-6.

2011

Weymouth, Alfred J., Wutscher, Thorsten, Welker, Joachim, Hofman, Thomas und Giessibl, Franz J. (2011) Phantom Force Induced by Tunneling Current: A Characterization on Si(111). Physical Review Letters (PRL) 106 (22), 226801-1-226801-4.

Diese Liste wurde erzeugt am Wed Dec 7 06:44:05 2016 CET.
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