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Anzahl der Einträge in dieser Kategorie: 99.

2016

Peronio, Angelo und Giessibl, Franz J. (2016) Attempts to test an alternative electrodynamic theory of superconductors by low-temperature scanning tunneling and atomic force microscopy. Physical Review B (PRB) 94, 094503.

Peronio, Angelo und Giessibl, Franz J. (2016) Attempts to test an alternative electrodynamic theory of superconductors by low-temperature scanning tunneling and atomic force microscopy. Physical Review B (PRB) 94 (094503), 094503.

Ooe, Hiroaki, Kirpal, Dominik, Wastl, Daniel S., Weymouth, Alfred J. , Toyoko, Arai und Giessibl, Franz J. (2016) Amplitude dependence of image quality in atomically-resolved bimodal atomic force microscopy. Applied Physics Letters 109, S. 141603.

Okobayashi, Norio, Gustafsson, Alexander, Peronio, Angelo, Paulsson, Magnus, Arai, Toyoko und Giessibl, Franz J. (2016) Influence of atomic tip structure on the intensity of inelastic tunneling spectroscopy data analyzed by combined scanning tunneling spectroscopy, force microscopy, and density functional theory. Physical Review B (PRB) 93, S. 165415-1.

2015

Huber, Ferdinand, Matencio, Sonia, Weymouth, Alfred J., Ocal, Carmen, Barrena, Esther und Giessibl, Franz J. (2015) Intramolecular Force Contrast and Dynamic Current-Distance Measurements at Room Temperature. Physical Review Letters 115 (6), 066101-1-066101-4.

Emmrich, Matthias (2015) Subatomare Auflösung auf Adatomen und kraftfeldabhängige laterale Manipulation mit einem eigenentwickelten Tieftemperatur-Rasterkraftmikroskop. Dissertation, Universität Regensburg.

Wastl, Daniel Sebastian (2015) Atomar aufgelöste Rasterkraftmikroskopie an Luft: Aufbau, Technik, Optimierung und Anwendung auf Graphit, Graphen, Kaliumbromid, Calcit und Molekülfilmen. Dissertation, Universität Regensburg.

Emmrich, Matthias, Huber, Ferdinand, Pielmeier, Florian, Welker, Joachim, Hofmann, Thomas, Schneiderbauer, Maximilian, Meuer, Daniel, Polesya, Svitlana, Mankovsky, Sergiy, Koedderitzsch, Diemo, Ebert, Hubert und Giessibl, Franz J. (2015) Subatomic resolution force microscopy reveals internal structure and adsorption sites of small iron clusters. SCIENCE 348 (6232), S. 308-311.

Emmrich, Matthias, Schneiderbauer, Maximilian, Huber, Ferdinand, Weymouth, Alfred J., Okabayashi, Norio und Giessibl, Franz J. (2015) Force Field Analysis Suggests a Lowering of Diffusion Barriers in Atomic Manipulation Due to Presence of STM Tip. Physical Review Letters (PRL) 114, 146101-146101-5.

Wastl, Daniel S., Judmann, Michael, Weymouth, Alfred J. und Giessibl, Franz J. (2015) Atomic Resolution of Calcium and Oxygen Sublattices of Calcite in Ambient Conditions by Atomic Force Microscopy Using qPlus Sensors with Sapphire Tips. ACS Nano 9 (4), S. 3858-3865. Volltext nicht vorhanden.

Wurster, Eva-Christina, Liebl, Renate, Michaelis, Stefanie, Robelek, Rudolf, Wastl, Daniel S., Giessibl, Franz J., Goepferich, Achim und Breunig, Miriam (2015) Oligolayer-Coated Nanoparticles: Impact of Surface Topography at the Nanobio Interface. ACS applied materials & interfaces 7, S. 7891-7900. Volltext nicht vorhanden.

Pielmeier, Florian, Landolt, Gabriel, Slomski, Bartosz, Muff, Stefan, Berwanger, Julian, Eich, Andreas, Khajetoorians, Alexander A., Wiebe, Jens, Aliev, Ziya S., Babanly, Mahammad B., Wiesendanger, Roland, Osterwalder, Jürg, Chulkov, Evgueni V., Giessibl, Franz J. und Dil, J . Hugo (2015) Response of the topological surface state to surface disorder in TIBiSe2. New Journal of Physics 17, 023067.

Ionescu, Andrei, Brambilla, Eugenio, Wastl, Daniel S., Giessibl, Franz J., Cazzaniga, Gloria, Schneider-Feyrer, Sibylle und Hahnel, Sebastian (2015) Influence of matrix and filler fraction on biofilm formation on the surface of experimental resin-based composites. Journal of Materials Science: Materials in Medicine 26, S. 58. Volltext nicht vorhanden.

Morita, Seizo und Giessibl, Franz J. und Wiesendanger, Roland und Meyer, Ernst, eds. (2015) Noncontact Atomic Force Microscopy: Volume 3. NanoScience and Technology, (12). Springer. ISBN Hardcover 978-3-319-15587-6; eBook ISBN 978-3-319-15588-3. Volltext nicht vorhanden.

Wurster, Eva-Christina, Liebl, Renate, Michaelis, Stefanie, Robelek, Rudolf, Wastl, Daniel S., Giessibl, Franz J., Göpferich, Achim und Breunig, Miriam (2015) Oligolayer-coated nanoparticles: impact of surface topography at the nanobio interface. ACS Applied Materials & Interfaces 7 (15), S. 7891-7900. Volltext nicht vorhanden.

2014

Schneiderbauer, Maximilian (2014) Aufbau eines Tieftemperatur-Ultrahochvakuum-Rasterkraftmikroskops und Messung elektrischer Multipolkräfte im Piconewton-Bereich. Dissertation, Universität Regensburg.

Pielmeier, Florian (2014) Atomic force microscopy in the picometer regime - resolving spins and non-trivial surface terminations. Dissertation, Universität Regensburg.

Hahnel, Sebastian, Wastl, Daniel S., Schneider-Feyrer, Sibylle, Giessibl, Franz J., Brambilla, Eugenio, Cazzaniga, Gloria und Ionescu, Andrei (2014) Streptococcus mutans biofilm formation and release of fluoride from experimental resin-based composites depending on surface treatment and S-PRG filler particle fraction. The journal of adhesive dentistry (JAD) 16 (4), S. 313-321. Volltext nicht vorhanden.

Hofmann, Thomas (2014) Hochauflösende Rasterkraftmikroskopie auf Graphen und Kohlenmonoxid. Dissertationsreihe der Fakultät für Physik der Universität Regensburg 37, Dissertation, Universität Regensburg.

Schneiderbauer, Maximilian, Emmrich, Matthias, Weymouth, Alfred J. und Giessibl, Franz J. (2014) CO Tip Functionalization Inverts Atomic Force Microscopy
Contrast via Short-Range Electrostatic Forces.
Physical Review Letters (PRL) 112, 166102-1-166102-5.

Wastl, Daniel S., Weymouth, Alfred J. und Giessibl, Franz J. (2014) Atomically Resolved Graphitic Surfaces in Air by Atomic Force Microscopy. ACS NANO 8 (5), S. 5233-5239. Volltext nicht vorhanden.

Pielmeier, Florian, Meuer, Daniel, Schmid, Daniel R., Strunk, Christoph und Giessibl, Franz J. (2014) Impact of thermal frequency drift on highest precision force microscopy using quartz-based force sensors at low temperatures. Beilstein Journal of Nanotechnology (5), S. 407-412. Volltext nicht vorhanden.

Hofmann, Thomas, Pielmeier, Florian und Giessibl, Franz J. (2014) Chemical and Crystallographic Characterization of the Tip Apex in Scanning Probe Microscopy. Physical Review Letters (PRL) 112 (6), 066101-1-066101-5. Zugang zum Volltext eingeschränkt.

Weymouth, Alfred J., Hofmann, Thomas und Giessibl, Franz J. (2014) Quantifying Molecular Stiffness and Interaction with Lateral Force Microscopy. Science 343 (6175), 1120-1-1120-5.

2013

Wastl, Daniel S., Speck, Florian, Wutscher, Elisabeth, Ostler, Markus, Seyller, Thomas und Giessibl, Franz J. (2013) Observation of 4 nm Pitch Stripe Domains Formed by Exposing Graphene to Ambient Air. ACS Nano 7 (11), S. 10032-10037. Volltext nicht vorhanden.

Weymouth, Alfred J., Meuer, Daniel, Mutombo, Pingo, Wutscher, Thorsten, Ondracek, Martin, Jelinek, Pavel und Giessibl, Franz J. (2013) Atomic Structure Affects the Directional Dependence of Friction. Physical Review Letters 111 (12), S. 126103. Volltext nicht vorhanden.

Welker, Joachim, Weymouth, Alfred J. und Giessibl, Franz J. (2013) The Influence of Chemical Bonding Configuration on Atomic Identification by Force Spectroscopy. ACS NANO 7 (8), S. 7377-7382. Volltext nicht vorhanden.

Wutscher, Thorsten, Niebauer, Johannes und Giessibl, Franz J. (2013) Scanning probe microscope simulator for the assessment of noise in scanning probe microscopy controllers. Review of Scientific Instruments 84, 073704-1.

Pielmeier, Florian und Giessibl, Franz J. (2013) Spin Resolution and Evidence for Superexchange on NiO(001) Observed by Force Microscopy. Physical Review Letters (PRL) 110 (26), 266101-1-266101-5.

Giessibl, Franz J. (2013) Seeing the Reaction. Science 340 (6139), S. 1417-1418.

Wastl, Daniel S., Weymouth, Alfred J. und Giessibl, Franz J. (2013) Optimizing atomic resolution of force microscopy in ambient conditions. Physical Review B (PRB) 87 (24), 245415-1-245415-10.

Welker, Joachim (2013) Höchstauflösende Kraftmikroskopie mit subatomar definierten Bindungszuständen. Dissertationsreihe der Fakultät für Physik der Universität Regensburg 30, Dissertation, Universität Regensburg.

Wutscher, Thorsten (2013) Untersuchung der Kopplung von atomaren Strömen und atomaren Kräften durch die Rastersondenmikroskopie. Dissertation, Universität Regensburg.

Welker, Joachim und Giessibl, Franz J. (2013) Abbildung der Symmetrien chemischer Bindungen. , Regensburg.

2012

Weymouth, Alfred Jay und Giessibl, Franz J. (2012) The effect of sample resistivity on Kelvin probe force microscopy. Applied Physics Letters 101, S. 213105-1.

Ionescu, Andrei, Wutscher, Elisabeth, Brambilla, Eugenio, Schneider-Feyrer, Sibylle, Giessibl, Franz J. und Hahnel, Sebastian (2012) Influence of surface properties of resin-based composites on in vitro Streptococcus mutans biofilm development. European Journal Of Oral Sciences 120 (5), S. 458-465. Volltext nicht vorhanden.

Wutscher, Elisabeth (2012) Dynamische Rasterkraftmikroskopie mit kleinen Amplituden an Luft und in Flüssigkeiten. Dissertation, Universität Regensburg.

Wutscher, Thorsten, Weymouth, Alfred J. und Giessibl, Franz J. (2012) Localization of the phantom force induced by the tunneling current. Physical Review B (PRB) 85 (19), 195426-1-195426-6.

Welker, Joachim und Giessibl, Franz J. (2012) Revealing the Angular Symmetry of Chemical Bonds by Atomic Force Microscopy. Science 336 (608), S. 444-449.

Welker, Joachim, Illek, Esther und Giessibl, Franz J. (2012) Analysis of force-deconvolution methods in frequency-modulation atomic force microscopy. Beilstein Journal of Nanotechnology 3, S. 238-248.

Schneiderbauer, Maximilian, Wastl, Daniel S. und Giessibl, Franz J. (2012) qPlus magnetic force microscopy in frequencymodulation mode with millihertz resolution. Beilstein Journal of Nanotechnology 3, S. 174-178.

2011

Giessibl, Franz J., Pielmeier, Florian, Eguchi, Toyoaki, An, Toshu und Hasegawa, Yukio (2011) Comparison of force sensors for atomic force microscopy based on quartz tuning forks and length-extensional resonators. Physical Review B (PRB) 84 (12), 125409-1-125409-15.

Weymouth, Alfred J., Wutscher, Thorsten, Welker, Joachim, Hofman, Thomas und Giessibl, Franz J. (2011) Phantom Force Induced by Tunneling Current: A Characterization on Si(111). Physical Review Letters (PRL) 106 (22), 226801-1-226801-4.

Ternes, Markus, González, César, Lutz, Christopher P., Hapala, Prokop, Giessibl, Franz J., Jelinek, Pavel und Heinrich, Andreas J. (2011) Interplay of Conductance, Force, and Structural Change in Metallic Point Contacts. Physical Review Letters (PRL) 106 (1), 016802-1-016802-4.

Welker, Joachim, de Faria Elsner, Frederico und Giessibl, Franz J. (2011) Application of the equipartition theorem to the thermal excitation of quartz tuning forks. Applied Physics Letters 99, 084102.

Wutscher, Elisabeth und Giessibl, Franz J. (2011) Atomic force microscopy at ambient and liquid conditions with stiff sensors and small amplitudes. Review of Scientific Instruments 82, 093703.

Wutscher, Thorsten und Giessibl, Franz J. (2011) Note: In situ cleavage of crystallographic oriented tips for scanning probe microscopy. Review of Scientific Instruments 82 (2), 026106.

2010

Tung, Raimond C., Wutscher, Thorsten, Martinez-Martin, David, Reifenberger, Ronald G., Giessibl, Franz J. und Raman, Arvind (2010) Higher-order eigenmodes of qPlus sensors for high resolution dynamic atomic force microscopy. Journal of Applied Physics 107 (10), 104508-1-104508-8.

Hofmann, Thomas, Welker, Joachim und Giessibl, Franz J. (2010) Preparation of light-atom tips for scanning probe microscopy by explosive delamination. Journal of Vacuum Science & Technology B 28 (3), C4E28-C4E30.

2009

Giessibl, Franz J. (2009) Auf die Spitze getrieben. Physik Journal 8 (11), S. 20-21. Volltext nicht vorhanden.

Gross, Leo, Mohn, Fabian, Meyer, Gerhard, Repp, Jascha und Giessibl, Franz J. (2009) Atomare Ladungszustände unter dem Rasterkraftmikroskop. Physik in unserer Zeit 40 (5), S. 225-226. Volltext nicht vorhanden.

Morita, Seizo und Giessibl, Franz J. und Wiesendanger, Roland, eds. (2009) Noncontact Atomic Force Microscopy: Volume 2. NanoScience and Technology. Springer, Heidelberg, Berlin. ISBN Hardcover 978-3-642-01494-9; eBook ISBN 978-3-642-01495-6; Softcover ISBN: 978-3-642-26070-4. Volltext nicht vorhanden.

2008

Ternes, Markus, Heinrich, Andreas J. und Giessibl, Franz J. (2008) Wie viel Kraft ist nötig, um ein Atom zu bewegen? Physik in unserer Zeit 39 (3), S. 111-112.

Ternes, Markus, Lutz, Christopher P., Hirjibehedin, Cyrus F., Giessibl, Franz J. und Heinrich, Andreas J. (2008) The Force Needed to Move an Atom on a Surface. Science 319 (5866), S. 1066-1069.

Schmid, Martin, Mannhart, Jochen und Giessibl, Franz J. (2008) Searching atomic spin contrast on nickel oxide (001) by force microscopy. Physical Review B (PRB) 77 (4), 045402-1-045402-6.

2007

Giessibl, Franz J. (2007) Ein atomarer Fingerabdruck. Physik Journal 6 (5), S. 22-23. Volltext nicht vorhanden.

2006

Giessibl, Franz J. und Quate, Calvin F. (2006) Exploring the Nanoworld with Atomic Force Microscopy. Physics today 59 (12), S. 44-50. Volltext nicht vorhanden.

Giessibl, Franz J. (2006) Higher-harmonic atomic force microscopy. Surface and Interface Analysis 38 (12-13), S. 1696-1701. Volltext nicht vorhanden.

Schmid, Martin, Renner, Andreas und Giessibl, Franz J. (2006) Device for in situ cleaving of hard crystals. Review of Scientific Instruments 77 (3), 036101-1-036101-7.

Baier, Jürgen (2006) Lumineszenz-Untersuchungen zur Generierung und Relaxation von Singulett-Sauerstoff in zellulärer Umgebung. Dissertation, Universität Regensburg.

Zotti, Linda A., Hofer, Werner A. und Giessibl, Franz J. (2006) Electron scattering in scanning probe microscopy experiments. Chemical Physics Letters 420 (1-3), S. 177-182.

2005

Manz, Thomas (2005) Stimulierte Stokes- und anti-Stokes-Raman-Streuung mit Bessel-Bündeln in Aceton und Wasserstoff. Dissertation, Universität Regensburg.

Giessibl, Franz J. (2005) AFM's path to atomic resolution. Materials Today 8 (5), S. 32-41.

Herz, Markus, Schiller, Christian H., Giessibl, Franz J. und Mannhart, Jochen (2005) Simultaneous current-, force-, and work-function measurement with atomic resolution. Applied Physics Letters 86 (15), 153101-1-153101-3.

Hembacher, Stefan, Giessibl, Franz J., Mannhart, Jochen und Quate, Calvin F. (2005) Local Spectroscopy and Atomic Imaging of Tunneling Current, Forces, and Dissipation on Graphite. Physical Review Letters (PRL) 94 (5), 056101-1-056101-4.

Giessibl, Franz J. und Reichling, Michael (2005) Investigating atomic details of the CaF₂(111) surface with a qPlus sensor. Nanotechnology 16 (3), S. 118-124.

Morita, Seizo, Giessibl, Franz J., Sugawara, Yasuhiro, Hosoi, Hirotaka, Mukasa, Koichi, Sasahara, Akira und Onishi, Hiroshi (2005) 13. Noncontact Atomic Force Microscopy and its Related Topics. In: Bhushan, Bharat, (ed.) Nanotribology and Nanomechanics An Introduction. Springer, Berlin, S. 385-411. ISBN 978-3-540-24267-3. Volltext nicht vorhanden.

2004

Hembacher, Stefan, Giessibl, Franz J. und Mannhart, Jochen (2004) Force Microscopy with Light-Atom Probes. Science 305 (5682), S. 380-383.

Giessibl, Franz J., Hembacher, Stefan, Herz, Markus, Schiller, C. H. und Mannhart, Jochen (2004) Stability considerations and implementation of cantilevers allowing dynamic force microscopy with optimal resolution: the qPlus sensor. Nanotechnology 15 (2), S. 79-86.

Giessibl, Franz J. (2004) Silicon and Its Vital Role in The Evolution of Scanning Probe Microscopy. In: Siffert, Paul und Krimmel, E. F., (eds.) Silicon : evolution and future of a technology. Springer, Berlin, S. 191-204. ISBN 3-540-40546-1. Volltext nicht vorhanden.

2003

Giessibl, Franz J. (2003) Atomic Force Microscopy on Its Way to Adolescence. AIP Conference Proceedings 696 (1), S. 60-67. Volltext nicht vorhanden.

Hembacher, Stefan, Giessibl, Franz J., Mannhart, Jochen und Quate, Calvin F. (2003) Revealing the hidden atom in graphite by low-temperature atomic force microscopy. Proceedings of the National Academy of Sciences of the United States of America (PNAS) 100 (22), S. 12539-12542.

Giessibl, Franz J. (2003) Advances in Atomic Force Microscopy. Reviews of Modern Physics (RMP) 75 (3), S. 949-983.

Herz, Markus, Giessibl, Franz J. und Mannhart, F. (2003) Probing the shape of atoms in real space. Physical Review B (PRB) 68 (4), 045301-1-045301-7.

Engl, Roland (2003) Die Erzeugung und Relaxation von Singulett-Sauerstoff in homogenen Lösungen sowie Lipid- und Zellsuspensionen. Dissertation, Universität Regensburg.

Giessibl, Franz J. (2003) B2. Principle of High-Resolution Atomic Force Microscopy. In: Blügel, Stefan und Luysberg, Martina und Urban, Knut und Waser, Rainer, (eds.) Fundamentals of nanoelectronics : lecture manuscripts of the 34th spring school of the Department of Solid State Research / Forschungszentrum Jülich GmbH, Institut für Festkörperforschung. Schriften des Forschungszentrums Jülich : Reihe Materie und Material, 14 (B2). Forschungszentrum, Zentralbibliothek, Jülich. ISBN 3-89336-319-X. Volltext nicht vorhanden.

2002

Giessibl, Franz J., Herz, Markus und Mannhart, Jochen (2002) Friction traced to the single atom. Proceedings of the National Academy of Sciences of the United States of America (PNAS) 99 (19), S. 12006-12010.

Hembacher, Stefan, Giessibl, Franz J. und Mannhart, Jochen (2002) Evaluation of a force sensor based on a quartz tuning fork for operation at low temperatures and ultrahigh vacuum. Applied Surface Science 188 (3-4), S. 445-449.

Giessibl, Franz J. (2002) 2. Principle of NC-AFM. In: Morita, Seizo und Wiesendanger, Roland und Meyer, Ernst, (eds.) Noncontact atomic force microscopy. Band 1. Nanoscience and technology (2). Springer, Berlin, S. 11-46. ISBN 3-540-43117-9 . Volltext nicht vorhanden.

Giessibl, Franz J. (2002) Pushing the Resolution Limits of the Force Microscope: from Steps to Atoms and Atomic Orbitals. In: Proceedings of the Scanning Probe Microscopy-2002 (SPM-2002) Workshop : 3 March - 6 March 2002, Nizhny Novgorod, Russia. Physics of low-dimensional structures, 2002,5/6 . VSV, Moskau, S. 172-174. Volltext nicht vorhanden.

2001

Giessibl, Franz J., Bielefeldt, Hartmut, Hembacher, Stefan und Mannhart, Jochen (2001) Imaging of atomic orbitals with the Atomic Force Microscope — experiments and simulations. Annalen der Physik 10 (11-12), S. 887-910.

Giessibl, Franz J. (2001) Rasterkraftmikroskop sieht erstmals ins Innere des Atoms. Spektrum der Wissenschaft 2001 (April), S. 12-14. Volltext nicht vorhanden.

Giessibl, Franz J., Hembacher, Stefan, Bielefeldt, Hartmut und Mannhart, Jochen (2001) Imaging silicon by atomic force microscopy with crystallographically oriented tips. Applied Physics A: Materials Science & Processing 72 (Suppl1), S. 15-17.

Giessibl, Franz J. (2001) A direct method to calculate tip–sample forces from frequency shifts in frequency-modulation atomic force microscopy. Applied Physics Letters 78 (1), S. 123-125.

2000

Giessibl, Franz J., Hembacher, Stefan, Bielefeldt, Hartmut und Mannhart, Jochen (2000) Subatomic Features on the Silicon (111)-(7×7) Surface Observed by Atomic Force Microscopy. Science 289 (5478), S. 422-425.

Giessibl, Franz J. und Bielefeldt, Hartmut (2000) Physical interpretation of frequency-modulation atomic force microscopy. Physical Review B (PRB) 61 (15), S. 9968-9971.

Giessibl, Franz J. (2000) Atomic resolution on Si(111)-(7×7) by noncontact atomic force microscopy with a force sensor based on a quartz tuning fork. Applied Physics Letters 76 (11), S. 1470-1472.

1999

Bielefeldt, Hartmut und Giessibl, Franz J. (1999) A simplified but intuitive analytical model for intermittent-contact-mode force microscopy based on Hertzian mechanics. Surface Science 440 (3), L863-L867.

Giessibl, Franz J., Bielefeldt, Hartmut, Hembacher, Stefan und Mannhart, Jochen (1999) Calculation of the optimal imaging parameters for frequency modulation atomic force microscopy. Applied Surface Science 140 (3-4), S. 352-357.

Giessibl, Franz J. (1999) Force Microscopy in Vacuum with Atomic Resolution. In: Kuk, Y. und Lyo, I.W. und Jeon, D. und Park, S. I., (eds.) Preliminary proceedings of STM : 10th Int'l Conference on Scanning Tunneling Microscopy/Spectroscopy and Related Proximal Probe Microscopy ; 19 - 23 July, 1999, Seoul, Korea. , S. 19-20. Volltext nicht vorhanden.

1998

Giessibl, Franz J. (1998) High-speed force sensor for force microscopy and profilometry utilizing a quartz tuning fork. Applied Physics Letters 73 (26), S. 3956-3958.

1997

Giessibl, Franz J. (1997) Forces and frequency shifts in atomic-resolution dynamic-force microscopy. Physical Review B (PRB) 56 (24), S. 16010-16015.

Giessibl, Franz J. und Tortonese, Marco (1997) Self-oscillating mode for frequency modulation noncontact atomic force microscopy. Applied Physics Letters 70 (19), S. 2529-2531.

1995

Giessibl, Franz J. (1995) Atomic Force Microscopy-(7x7) Surface by Atomic Force Microscopy. Science 267 (5194), S. 68-71.

1994

Giessibl, Franz J. (1994) Atomic Force Microscopy in Ultrahigh Vacuum. Japanese Journal of Applied Physics (JJAP) 33, Part 1 (6B), S. 3726-3734. Volltext nicht vorhanden.

Giessibl, Franz J. und Trafas, Brian M. (1994) Piezoresistive cantilevers utilized for scanning tunneling and scanning force microscope in ultrahigh vacuum. Review of Scientific Instruments 65 (6), S. 1923-1929.

1992

Giessibl, Franz J. und Binnig, Gerd (1992) Investigation of the (001) cleavage plane of potassium bromide with an atomic force microscope at 4.2 K in ultra-high vacuum. Ultramicroscopy 42-44 pt.1, S. 281-289.

Giessibl, Franz J. und Binnig, Gerd (1992) Theory for an electrostatic imaging mechanism allowing atomic resolution of ionic crystals by atomic force microscopy. Physical Review B (PRB) 45 (23), 13815(R).

1991

Giessibl, Franz J., Gerber, Christoph und Binnig, Gerd (1991) A low‐temperature atomic force/scanning tunneling microscope for ultrahigh vacuum. Journal of Vacuum Science and Technology B 9 (2), S. 984-988.

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